- + 行業(yè)專用檢測儀器
- - 水分測定儀
- - 紙張檢測儀器
- - 環(huán)保設(shè)備
- - 其他檢測類
- - 美國福祿克系列
- - 張力計(jì)/壓力計(jì)系列
- - 全站儀/水準(zhǔn)儀系列
- - 哈納（HANNA）儀器系列
- - 直流電阻電橋系列
- - 德國羅威邦系列
- - 輻射類儀器
- - 照度計(jì)
- - 醫(yī)藥行業(yè)檢測儀器
- - 室內(nèi)檢測儀器
- - 石油化工儀器
- - 教學(xué)系列儀器
- - 測溫儀器
- - 通用分析儀器
- - 泰克曼系列
- - 衡欣AZ系列
- - 冷媒檢漏儀
- - 機(jī)動(dòng)車檢測儀器
- - 毛細(xì)管流量檢測儀
- - 煤礦檢測儀器
- - 靜壓計(jì)
- - 數(shù)顯氣壓計(jì)
- - 折射儀
- - 信號(hào)發(fā)生器
- - 流速儀
- - 亮度計(jì)
- - 電力電工儀表系列
- - 無損檢測儀器
- + 更多分類
您的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 行業(yè)專用檢測儀器 > 無損檢測儀器 > JCKDY-1A四探針電阻率測試儀/便攜式電阻率測試儀/四探針電阻率（此款不需要帶軟件）
產(chǎn)品中心
-
產(chǎn)品名稱： 四探針電阻率測試儀/便攜式電阻率測試儀/四探針電阻率（此款不需要帶軟件）產(chǎn)品型號(hào)： JCKDY-1A更新時(shí)間： 2024-04-10四探針電阻率/方阻測試儀主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器
產(chǎn)品介紹
四探針電阻率測試儀的主要技術(shù)指標(biāo)：
1. 四探針電阻率測試儀
四探針法—本方法快速且不需要樣品有規(guī)則的橫截面。本測試方法可用于不規(guī)則形狀的樣品，只要它有適于探針接觸的平面區(qū)域即可。如本標(biāo)準(zhǔn)所述，本測試方法只適用于厚度和任一探針尖到zui近邊緣的距離都至少為探針間距的四倍的樣品。對(duì)于厚度大于探針間距一倍而小于四倍的圓形橫截面樣品這樣特定的場合，用本方法進(jìn)行測量是可行的，測量中要求使用的近似幾何修正可使測量精度提高。
四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是參考按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，用來測量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機(jī)）、測試架及四探針頭組成。主機(jī)提供精度為0.1%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定。，儀器配置了本公司的產(chǎn)品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。
2. 四探針電阻率/方阻測試儀設(shè)備技術(shù)要求及性能指標(biāo)：
3. 四探針電阻率測試儀測量范圍：電阻率0.01～199.9歐姆·厘米，zui小分辨率為0.01歐姆·厘米
方塊電阻0.1～1999歐姆/□，zui小分辨率為0.1歐姆/□
2.1 可測量材料：半導(dǎo)體材料硅鍺棒、塊、片、導(dǎo)電薄膜等
2.2 可準(zhǔn)確測量的半導(dǎo)體尺寸：直徑≥20㎜
2.3 可測量的半導(dǎo)體尺寸：直徑≥8㎜
2.4 測量方式：平面測量。
2.5 電壓表：
A.量程0~199.9 mV
B. 靈敏度：100μv
C.基本誤差0.2%（±2個(gè)字）
D.輸入阻抗﹥1000MΩ
E. 3 1/2位數(shù)字顯示，0～1999
2.6 恒流源：
A.電流輸出：直流電流0.1～10 mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給
B.量程： 1 mA，10 mA兩檔
C.恒流源精度：各檔均≤±0.1%
2.7 四探針測試探頭B級(jí)
A.探頭間距1.59㎜
B.探針機(jī)械游率：±0.5%
C.探針直徑0.8㎜，探針針尖壓痕直徑30-50μm，探針合力8±1N
D.探針材料：碳化鎢，探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。
2.8 四探針電阻率測試儀
2.9 測試架
JCKDJ
2.10 精度
電器精度：1-100歐姆≤0.4 %
整機(jī)測量精度：1-100歐姆·厘米≤5%
固定點(diǎn)測量重復(fù)性：1-10歐姆·厘米≤3%
電流：220V±10%，50HZ，功率消耗﹤25
相關(guān)產(chǎn)品